Algunas consideraciones termodinámicas en la determinación del límite de la tecnología de silicio
En trabajos anteriores, para determinar el límite temporal de la tecnología de silicio se utilizó, en primer lugar la ley de Moore, una ley empírica que dejó de cumplirse hace algún tiempo considerándose más exacta la densidad de transistores medida en millones de transistores partido por milímetro cuadrado. Sin embargo, esta última aproximación no tuvo en cuenta un aspecto fundamental, como es la disipación de potencia y el límite de potencia que podría soportar un chip con un disipador adecuado. Esta restricción energética, podrá ayudar a determinar con más precisión el límite temporal de la tecnología de silicio,
En cuanto al límite dimensional parece igualmente confirmarse el límite de 1 nanómetro determinado en trabajos anteriores, desde el punto de vista de la física teórica, esto es, de las consideraciones de Feynman que establecen que un transistor podría construirse con 4 átomos de silicio, lo que supondría una dimensión por transistor de 1 nanómetro.
Sin embargo, es necesario tener en cuenta que cualquier chip que se construyera con una densidad de transistores superior a la densidad máxima se derretiría al encenderlo.
Se va a obtener en primer lugar la potencia máxima admisible por milímetro cuadrado para el caso del silicio.
Se parte, de los siguientes datos correspondientes al silicio:
Su temperatura de fusión asciende a 1414 C y por tanto a 1687 K
| Calor específico | 700 J/(K·kg) | |
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Y su densidad asciende a:
| Densidad | 2330 kg/m3 | |
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